ElektroPhysik MiniTest 745
- Miernik grubości powłok na podłożach metalowych
- Jednostka podstawowa z wybraną sondą wymienną
- Pamięć 100 000 wyników w 100 grupach
- Cyfrowe przetwarzanie sygnału SIDSP
- Pomiar pojedynczy i ciągły
- Transmisja danych przez USB i Bluetooth
- Wielojęzyczne menu, w tym język polski
Opis
Miernik grubości powłok – MiniTest 745
Miernik grubości powłok MiniTest 745 służy do nieniszczących pomiarów powłok na podłożach metalowych. Ma wymienne sondy dobierane do zadania pomiarowego. Wykonanie F mierzy powłoki niemagnetyczne na stali i innych podłożach ferromagnetycznych, wykonanie N powłoki izolacyjne na metalach niemagnetycznych, a FN obsługuje oba rodzaje podłoża.
Jedna jednostka podstawowa może współpracować z kilkoma sondami, dzięki czemu zestaw można dostosować do różnych podłoży, zakresów grubości i geometrii elementów.
Kompletowanie zestawu pomiarowego
Komplet pomiarowy MiniTest 745 składa się z jednostki podstawowej oraz jednej lub kilku sond dobranych do wykonywanych pomiarów. Jednostka podstawowa o numerze katalogowym 80-138-0000 nie zawiera sondy. Warianty dostępne w formularzu obejmują jednostkę podstawową oraz jedną wybraną sondę. Dodatkowe kompatybilne sondy można dobrać oddzielnie.
Sondę należy dobrać do rodzaju podłoża, zakresu grubości powłoki i geometrii mierzonego elementu. Zestaw można skompletować z kilkoma sondami do różnych zadań pomiarowych.
Najważniejsze cechy
- Cyfrowe przetwarzanie sygnału w głowicy sondy w technologii SIDSP.
- Pamięć 100 000 wyników w 100 grupach pomiarowych.
- Pomiar pojedynczy i ciągły oraz statystyczna analiza wyników.
- Wielojęzyczne menu, w tym język polski.
- Kalibracja dopasowana do podłoża, w tym powierzchni chropowatych.
- Transmisja wyników przez USB lub Bluetooth.
- Sygnalizacja optyczna i dźwiękowa po przekroczeniu ustawionych granic.
Pomiar i opracowanie wyników
Technologia SIDSP obejmuje rejestrację, filtrowanie i przetwarzanie sygnału bezpośrednio w sondzie. Kompensacja temperatury i przewodności podłoża w sondach N oraz FN ogranicza wpływ zmian warunków na wskazania. Tryb ciągły pozwala śledzić zmiany grubości powłoki, a tryb pojedynczy służy do wykonywania kolejnych odczytów punktowych.
Zapisane wyniki można przesłać do komputera i opracować w oprogramowaniu MSoft 7 basic. Opcjonalne MSoft 7 professional rozszerza możliwości analizy danych.
Podłączanie sond
Sondy wymienne mogą pracować na przewodzie, a sondy o odpowiedniej budowie także bezpośrednio w obudowie miernika. Opcjonalny adapter SmarTest umożliwia bezprzewodowe przesyłanie wskazań z kompatybilnych sond do miernika przez Bluetooth. Adapter jest wyposażeniem dodatkowym.
Typy sond wymiennych
Oznaczenie F dotyczy podłoży ferromagnetycznych, N podłoży metalowych niemagnetycznych, a FN obu rodzajów podłoża. Każde wykonanie ma własny numer katalogowy. Poniższe kody identyfikują same sondy. SKU wariantu łączy kod jednostki podstawowej 80-138-0000 z kodem wybranej sondy.
| Wykonanie sondy | Podłoża F | Podłoża N | Podłoża F i N |
|---|---|---|---|
| F0.5: 0 … 0,5 mm; N0.2: 0 … 0,2 mm | |||
| Standardowa | F0.5 80-135-1600 |
N0.2 80-135-1700 |
|
| F1.5: 0 … 1,5 mm; N0.7: 0 … 0,7 mm; FN1.5: F: 0 … 1,5 mm; N: 0 … 0,7 mm | |||
| Standardowa | F1.5 80-135-0000 |
N0.7 80-135-0100 |
FN1.5 80-135-0200 |
| F1.5-90°: 0 … 1,5 mm; N0.7-90°: 0 … 0,7 mm; FN1.5-90°: F: 0 … 1,5 mm; N: 0 … 0,7 mm | |||
| Kątowa 90°, do rur i trudno dostępnych miejsc | F1.5-90° 80-135-2100 |
N0.7-90° 80-135-2200 |
FN1.5-90° 80-135-2300 |
| F2: 0 … 2,0 mm | |||
| Standardowa | F2 80-135-0300 |
||
| F2.6: 0 … 2,6 mm; FN2.6: F: 0 … 2,6 mm; N: 0 … 1,0 mm | |||
| Do pomiarów na elementach karoserii | F2.6 80-135-3400 |
FN2.6 80-135-3500 |
|
| F5: 0 … 5,0 mm; N2.5: 0 … 2,5 mm; FN5: F: 0 … 5,0 mm; N: 0 … 2,5 mm | |||
| Standardowa | F5 80-135-0400 |
N2.5 80-135-0500 |
FN5 80-135-0600 |
| HD, do trudnych warunków pracy | F5 HD 80-135-3600 |
||
| F15: 0 … 15 mm; N7: 0 … 7,0 mm | |||
| Do grubych powłok | F15 80-135-0700 |
N7 80-135-2400 |
|
| F35: 0 … 35 mm; N20: 0 … 20 mm | |||
| Do grubych powłok | F35 80-135-3700 |
N20 80-135-4000 |
|
| Sondy miniaturowe: F 0 … 0,5 mm; N 0 … 0,3 mm | |||
| Miniaturowa, prosta | F0.5M-0° 80-135-2800 |
N0.3M-0° 80-135-3100 |
|
| Miniaturowa, kątowa 45° | F0.5M-45° 80-135-2900 |
N0.3M-45° 80-135-3200 |
|
| Miniaturowa, kątowa 90° | F0.5M-90° 80-135-3000 |
N0.3M-90° 80-135-3300 |
|
Dane techniczne miernika
| Parametr | Wartość |
|---|---|
| Numer katalogowy jednostki podstawowej | 80-138-0000 |
| Sonda | Wymienna, zamawiana oddzielnie |
| Pamięć wyników | 100 000 |
| Grupy pomiarowe | 100 |
| Masa | Około 175 g z sondą w obudowie lub 230 g z sondą na przewodzie |
| Zasada pomiaru | Indukcja magnetyczna dla F; prądy wirowe dla N |
| Rozpoznawanie podłoża | Automatyczne przy zastosowaniu sondy FN |
| Statystyka | Liczba odczytów, minimum, maksimum, średnia, odchylenie standardowe, współczynnik zmienności, statystyka bloków |
| Kalibracja | Fabryczna, zerowanie, dwupunktowa i wielopunktowa; tryb do podłoży chropowatych |
| Procedury kalibracji | ISO 19840, SSPC-PA 2, SS 184160, AS 3894.3 |
| Kontrola tolerancji | Ustawiane granice oraz sygnalizacja optyczna i dźwiękowa |
| Korekcja wskazań | Stała poprawka offset oraz korekcja dla podłoży chropowatych |
| Tryb pojedynczy | Do 70 odczytów/min w szybkim trybie pomiarowym |
| Tryb ciągły | Do 20 odczytów/s |
| Jednostki | µm, mm, cm, mils, inch, thou |
| Wyświetlacz | Graficzny, 128 × 64 piksele, z podświetleniem |
| Menu | Wielojęzyczne menu, w tym język polski |
| Transmisja danych | USB i Bluetooth |
| Zasilanie | 2 baterie AA; opcjonalnie akumulatory NiMH AA/HR6 |
| Trwałość baterii | Około 30 000 pomiarów przy wyłączonym podświetleniu |
| Stopień ochrony obudowy | IP40 |
| Temperatura pracy miernika | -10 … +60 °C |
| Temperatura przechowywania miernika | -20 … +70 °C |
| Wymiary miernika | 157 × 75,5 × 49 mm |
| Normy pomiarowe | DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882, 19840; ASTM B244, B499, D7091, E376; AS 3894.3; SS 184160; SSPC-PA 2 |
Dane techniczne sond standardowych i miniaturowych
| Sonda | Zakres pomiarowy | Dokładność po kalibracji wielopunktowej | Minimalna średnica pola pomiarowego |
|---|---|---|---|
| F0.5 | 0 … 0,5 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| F1.5 | 0 … 1,5 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| F1.5-90° | 0 … 1,5 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| F2 | 0 … 2,0 mm | ± (1,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 10 mm |
| F2.6 | 0 … 2,6 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| F5 | 0 … 5,0 mm | ± (1,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 10 mm |
| F15 | 0 … 15 mm | ± (5,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 25 mm |
| F35 | 0 … 35 mm | ± (20 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 100 mm |
| N0.2 | 0 … 0,2 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| N0.7 | 0 … 0,7 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| N0.7-90° | 0 … 0,7 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| N2.5 | 0 … 2,5 mm | ± (1,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 10 mm |
| N7 | 0 … 7,0 mm | ± (5,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 20 mm |
| N20 | 0 … 20 mm | ± (20 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 100 mm |
| FN1.5 | F: 0 … 1,5 mm; N: 0 … 0,7 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| FN1.5-90° | F: 0 … 1,5 mm; N: 0 … 0,7 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| FN2.6 | F: 0 … 2,6 mm; N: 0 … 1,0 mm | ± (1,0 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 5 mm |
| FN5 | F: 0 … 5,0 mm; N: 0 … 2,5 mm | ± (1,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 10 mm |
| F0.5M-0° | 0 … 0,5 mm | ± (0,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 3 mm |
| F0.5M-45° | 0 … 0,5 mm | ± (0,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 3 mm |
| F0.5M-90° | 0 … 0,5 mm | ± (0,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 3 mm |
| N0.3M-0° | 0 … 0,3 mm | ± (0,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 3 mm |
| N0.3M-45° | 0 … 0,3 mm | ± (0,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 3 mm |
| N0.3M-90° | 0 … 0,3 mm | ± (0,5 µm + 0,75% wartości mierzonej) | Ø 3 mm |
Podane dokładności dotyczą kalibracji wielopunktowej na dostarczonych wzorcach w warunkach laboratoryjnych. Minimalne pole pomiarowe zależy od geometrii elementu i sposobu prowadzenia sondy. Dla sond miniaturowych i standardowych małe pola pomiarowe mogą wymagać statywu pomiarowego. Tabela nie określa minimalnego pola pomiarowego sond HD.
Zakres dostawy
Jednostka podstawowa
- MiniTest 745 bez sondy, numer katalogowy 80-138-0000
- Przewód do zewnętrznego podłączenia sondy SIDSP
- Miękkie etui z paskiem na ramię i zaczepem do paska
- Pasek na nadgarstek
- 2 baterie AA
- Instrukcja obsługi na nośniku CD
Sondy pomiarowe
Wybrany wariant obejmuje jedną sondę. Dodatkowe sondy można zamówić oddzielnie. Z sondą dostarczane są odpowiednie płytki odniesienia do zerowania i wzorce grubości. Standardowe sondy mają elementy do pozycjonowania przy montażu w obudowie oraz na przewodzie; ich wyposażenie zależy od wykonania sondy.
Akcesoria
- Statyw do precyzyjnego prowadzenia kompatybilnych sond standardowych i miniaturowych
- Gumowa osłona ochronna miernika
- Akumulatory NiMH AA i ładowarka
- MiniPrint 7000 BT do drukowania wyników
- MSoft 7 professional do analizy danych
- SmarTest do bezprzewodowej pracy kompatybilnych sond
Informacje dodatkowe
| Rodzaj podłoża | Ferromagnetyczne, Nieferromagnetyczne, Oba rodzaje |
|---|---|
| Typ sondy | 745 F0.5, 745 F1.5, 745 F1.5-90°, 745 F2, 745 F2.6, 745 F5, 745 F5 HD, 745 F15, 745 F35, 745 N0.2, 745 N0.7, 745 N0.7-90°, 745 N2.5, 745 N7, 745 N20, 745 FN1.5, 745 FN1.5-90°, 745 FN2.6, 745 FN5, 745 F0.5M-0°, 745 F0.5M-45°, 745 F0.5M-90°, 745 N0.3M-0°, 745 N0.3M-45°, 745 N0.3M-90° |
